Анализатор размера наночастиц BeNano 180 Pro

Особенности

• Быстрые измерения.
• Высокопроизводительный полупроводниковый лазер, высокая мощность, стабильность, длительный срок службы, низкие затраты на техническое обслуживание
• Интеллектуальная регулировка интенсивности в соответствии с соотношением сигнал-шум.
• Эффективное увеличение отношения сигнал / шум за счет высокой чувствительности оптической системы.
• Интеллектуальный алгоритм оценки результатов, обработка качества сигнала для устранения влияния случайных событий.
• Широкий диапазон контроля температуры от -10°C до 110°C удовлетворяющий требования к измерений образцов в различных температурных режимах.
• Стабилизированная оптическая конструкция. Обеспечивает высокую повторяемость результатов без необходимости регулярного технического обслуживания.
• Различные встроенные режимы расчета для охвата различных научных исследований и областей применения

ФАЗОВЫЙ АНАЛИЗ РАССЕЯНИЯ СВЕТА (PALS)

Традиционный ELS преобразует коррелированные сигналы рассеяния в частотное распределение, а затем вычисляет частотный сдвиг Δf рассеянного света по сравнению с эталонным светом. Фазовый анализ светорассеяния (PALS), передовая технология, основанная на традиционной технологии ELS, была доработана Bettersize Instruments Ltd. для измерения дзета-потенциала и его распределения в образце. Анализируя фазовую информацию Φ исходного рассеянного сигнала, PALS получает частотную информацию этого света.

Фазовый сдвиг dΦ / dt со временем пропорционален частотному сдвигу Δf. Технология PALS может подавлять влияние броуновского движения частиц на результаты, тем самым обеспечивая более высокую статистическую точность. В различных приложениях PALS может эффективно измерять дзета-потенциал частиц, заряд которых приближается к изоэлектрической точке, например, частицы с очень медленной электрофоретической подвижностью при высокой концентрации соли.

Статическое рассеяние света (SLS)

Статическое рассеяние света — это технология, которая измеряет интенсивность рассеяния, средневзвешенную молекулярную массу (Mw) и второй вириальный коэффициент (A2) образца с помощью уравнения Рэлея:

где C — концентрация образца, θ — угол обнаружения, Rθ — коэффициент Рэлея, используемый для характеристики отношения интенсивностей между рассеянным светом и падающим светом под углом θ, Mw — средневзвешенная молекулярная масса образца, A2 — второй вириальный коэффициент, а K — константа, связанная с (dn / dc) 2.

Документация

Соответствует:

• ISO 13321 Particle size analysis — Photon correlation spectroscopy.
• ISO 22412 Particle size analysis — Dynamic light scattering (DLS).

Валидация IQ/OQ/PQ

По желанию на данный прибор можно приобрести валидационный пакет IQ/OQ/PQ.